АКТАКОМ АМ-3028 - старшая модель в серии анализаторов RLC-параметров электрических цепей. АКТАКОМ АМ-3028 служит для автоматического анализа с последующим измерением индуктивности, электрической емкости, сопротивления, тангенса угла потерь, добротности, комплексного сопротивления, фазового сдвига, а также других параметров SMD-компонентов.
Технические характеристики автоматического анализатора АКТАКОМ АМ-3028 :
-
Базовая погрешность автоматического анализатора 0,05%;
-
Диапазон частот 20 Гц...1 МГц с шагом 1мГц;
-
Графический ЖК-дисплей: 320х240 точек; 6 разрядов; многофункциональное экранное меню;
-
4-х проводная схема измерений (с возможностью подключения различных штатных аксессуаров);
-
22 комбинаций (пар) одновременно измеряемых параметров;
-
Выходной импеданс 30 Ом / 100 Ом (на выбор)
-
Встроенный компаратор (10 ячеек + 1; счётчик);
-
Режим свипирования (10 значений частоты, уровня сигнала, постоянного смещения);
-
Функция автоматического контроля с отображением реального уровня тестового сигнала;
-
20 профилей настроек, сохраняемых в энергонезависимой памяти;
-
Скорость измерений автоматического анализатора до 30 изм/с;
-
Интерфейсы: RS-232C; GPIB; USB (Host); Handler (опция)
Автоматический анализатор АКТАКОМ АМ-3028 используется для измерения:
-
Пассивные компоненты: измерения импеданса конденсатора, катушки индуктивности, магнитных сердечников, резисторов, трансформаторов, модульных чипов.
-
Полупроводники: характеристики варисторов,анализ паразитарных параметров транзисторов, диэлектрическая
проницаемость, проводимость
-
Диэлектрические материалы: диэлектрическая проницаемость, коэффициент рассеяния диэлектрических потерь оценки пластиков, керамики
-
Магнитные материалы: магнитная проводимость, коэффициент рассеяния феррита, некристаллических материалов.
-
Материалы ЖКИ: проницаемость, проводимость и др
-
Прочее: оценка импеданса печатных плат, реле, переключателей, кабелей, аккумуляторов
Автоматический анализатор имеет ряд универсальных возможностей:
-
Определение величины характеристик индуктора
-
Точность измерения низкого коэффициента рассеяния керамических конденсаторов
-
Определение емкостных характеристик ЖКИ
-
Определение параметров полупроводниковых материалов, компонентов
-
Применяется в разработке новейших материалов и компонентов
.