Закрыть
Регистрация
Закрыть
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Регистрация

Meridian 7 новая оптическая система локализации дефектов в узлах длиной менее 10 нм

Новости

Meridian 7 новая оптическая система локализации дефектов в узлах длиной менее 10 нм 18.10.2021
Одноклассники Facebook LJ Twitter В Контакте
Компания Серния Инжиниринг представляет российским заказчикам Meridian 7, новую модификацию системы анализа электрических отказов от предприятия Thermo Fisher SCIENTIFIC (США) для неразрушающей локализации электрических дефектов в узлах длиной менее 10 нм.

Оптическая система изоляции неисправностей Meridian 7 обеспечивает визуализацию и зондирование с помощью лазерного луча в видимой области спектра, а также динамическую лазерную стимуляцию на устройствах с длиной волны менее 10 нм.

Избегая потребности в ультратонких подложках, данный способ сохраняет целостность и функциональность тестируемого устройства, обеспечивая надежное и практичное производственное решение. Установка MERIDIAN 7 повышает оптическое разрешения на 25% по сравнению с аналогичными системами из данной серии более ранних поколений и имеет меньший размер пятна для лучшей локализации неисправностей.

Кроме того, новая система локализации Meridian 7 обеспечит Заказчику большее удобство в навигации и наложении систем автоматизированного проектирования (САПР), меньший уровень перекрестных помех и более высокое значение соотношения сигнал / шум.


Ключевые особенности системы Meridian  7 
  • Динамическая оптическая изоляция неисправностей для выявления параметрических дефектов
  • Высокая пропускная способность для точного временного анализа
  • Улучшенное оптическое разрешение для лучшей локализации неисправностей
  • Варианты конфигурации
  • Новая система анализа электрических отказов Meridian 7 Thermo Fisher Scientific доступна в двух конфигурациях:
Аппартано, оптическая система локализации дефектов Meridian 7 оставляется заказчику в двух вариантах:
  1. Система Meridian 7D: комбинированная система лазерного сканирующего микроскопа (LSM) с двойным уровнем SIL (1064 нм и 785 нм)
  2. Система Meridian 7S: система LSM только на 785 нм с дополнительным усовершенствованным охлаждением образца для высокоскоростного тестирования, когда может потребоваться управление температурой образца для предотвращения теплового перегрева, влияющего на производительность кристалла.

Если Вас заинтересовала новая оптическая система локализации электрических дефектов Meridian 7 или Вас интересует подбор другого оборудования для проведения анализа отказов, обращайтесь компанию Серния ИНжиниринг.  Подготовленные технические специалисты проконсультируют Вас и сориентируют по текущим ценам на оборудование.

Присылайте свои вопросы на электронную почту: info@sernia.ru или позвоните +7 (495) 204-13-17.

Количество показов: 271
Предоставлено:  СЕРНИЯ ИНЖИНИРИНГ, ООО

Возврат к списку

ON-LINE версия