ООО «Серния Инжиниринг» представляет российским заказчикам оборудование для анализа поверхностей различными методами от компании Physical Electronics, (основана в 1969 году, с 1982 входит в состав корпорации ULVAC-PHI (США-Япония)), ведущего мирового разработчика и поставщика инновационных решений.
Системы для анализа поверхностей от Physical Electronics (PHI) успешно применяются при исследованиях и разработках передовых материалов в таких высокотехнологичных областях, как: нанотехнологии, микроэлектроника, разработка и анализ магнитных носителей информации, биомедицина, исследования металлов и керамики, полимеров, тонких пленок, катализаторов, производство фотоэлектрических элементов, батарей, износостойких покрытий и др.
В номенклатуре от компании Physical Electronics (PHI) представлены уникальные по своим техническим характеристикам и исследовательским возможностям системы сканирующей ожэ-микроскопии (AES), тандемной времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии (технология TOF-SIMS, ВИМС), сканирующей рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (технология XPS и HAXPES, ESCA, РФЭС) и другие установки.
Все оборудование имеет настраиваемую архитектуру и комплектацию (базовый функционал + опциональный), спроектировано и создано на основе последних технологических достижений в области исследований поверхностей материалов различными методами анализа поверхностей, а также их уникальных комбинаций применения в одном приборе, которые можно найти только у данного производителя.
В каталоге систем для анализа поверхностей PHI представлено следующее оборудование:
PHI 710 – система сканирующей ожэ-микроскопии (технология AES);
nanoTOF II - система тандемной времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии (технология TOF-SIMS, ВИМС);
При желании сделать заказ или получить консультацию по системам для анализа поверхностей PHI в компании «Серния Инжиниринг», присылайте свою заявку на e-mail info@sernia.ru или позвоните по тел.: +7 495 204 13 17.
