В последние дни января 2014 года, на проходившей в г. Санта-Клара, Калифорния, США. ежегодной международной выставке Design Con 2014, крупнейшем мировом смотре достижений современной электроники, были подведены итоги престижного конкурса
"Best in Test" и названы победители в 10 различных номинациях.
Уже в тридцать второй раз путем опроса мнений экспертов и пользователей были определены лучшие приборы в 10-ти номинациях из новых приборов и измерительных продуктов, появившихся на рынке в 2013 году. В каждой номинации были представлены от 3 до 6 моделей приборов или устройств.
По результатам голосования победителями конкурса Best in Test 2014 были признаны:
- В номинации Manufacturing Test / ATE (промышленные измерения) - победила производственная система испытаний Teradyne J750Ex
- В номинации Data Acquisition ( сбор данных) - победил прибор Agilent U5303A высокоскоростной встраиваемый 12-ти разрядный дигитайзер в формате PCIe с встроенной ПЛИС обработки сигналов.
- В номинации Handheld / Portable Test ( ручные и портативные приборы) - победила серия портативных анализаторов Agilent FieldFox
- В номинации Machine Vision / Inspection (машинное зрение и проверка) - победителем стала 3-D рентгенографическая система ViTroxV810 XXL AX
- В номинации Network Tes (приборы и продукты для тестирования кабельных сетей проводных, беспроводных, оптических, гибридных)) - победителем стало программное обеспечение Spectra2 XL3, которое используется для тестирования развитого пакетного ядра и подсистемы IP-мультимедиа (IMS) для мобильных LTE- и IP-сетей, от компании Tektronix International Inc.
- В номинации Test Support: Programmable Power Supplies, Signal Generators, Etc ( Поддержка измерений -программируемые источники питания, генераторы сигналов и т.д.) - победителем признан модуль связи NI PXIe-8383mc, который позволяет двум и более интеллектуальным системам измерений производить обмен данными посредством интерфейса PCI Express.
- В номинации RF / Microwave Test ( радиочастотные и СВЧ измерений) - победителем стал R&S SMW200A векторный генератор сигналов от компании Rohde & Schwarz
- В номинации Semiconductor Tes (полупроводниковые измерения - победила установка Microtech CM300 Cascade - 300 мм зондовая станция для тестирования все усложняющихся полупроводниковых издели, с возможностью измерений образцов, выполненных по технологическому процессу в 45 нм и ниже.
- В номинации Signal Integrity / High-Speed Test (целостность сигнала/высокоскоростные измерения) - победителем стал цифровой осциллограф в форм-факторе PXI - NI PXIe-5162 от компании National Instruments
- В номинации Software / Embedded Test (специальное программное обеспечение / встроенные измерители) - победителем признан анализатор периферийного сканирования Agilent x1149
Абсолютным победителем и лучшим прибором 2013 года назван модуль связ NI PXIe-8383mc от компании National Instruments.
Лучшей компанией 2013 года стала компания Agilent Technologies , победившая в 3-х номинациях из 10 ти объявленных.