Закрыть
Регистрация
Закрыть
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Регистрация

Semiconductor Test System новое решение для автоматизации тестирования электронных компонентов

Новости

Semiconductor Test System новое решение для автоматизации тестирования электронных компонентов 06.12.2019
Одноклассники Facebook LJ Twitter В Контакте

 Компания National Instruments (США) представляет свою новую установку - "Semiconductor Test System " (NI STS )- готовое к эксплуатации на производстве, интегральное ATE-решение (ATE, сокращение от Automatic Testing Equipment), предназначенное для автоматизации процессов тестирования полупроводниковых устройств.

Данное решение "NI STS" может применяться при промышленном тестировании электронных ВЧ-устройств, устройств с сигналами различной природы и устройств типа MEMS ( микро - электронно - механические системы). Оно помогает сократить время вывода готовой продукции на рынок и снижает общую стоимость собственно процесса предварительного тестирования.

Решение "NI STS" разумная альтернатива для тестирования полупроводниковых устройств на производстве, которая отличается высокой производительностью и представляет собой установку, полностью готовую к использованию на производстве.

Эта установка подготовлена к эксплуатации в составе промышленного испытательного стенда, поддерживает различные манипуляторы, оснастки и зонды для кремниевых пластин, а стандартное расположение пружинных клемм позволяет использовать легко переносимые программы тестирования и платы нагрузки.

Установка NI STS включает универсальный набор программных средств для быстрых и эффективных разработки, отладки и развертывания тестовых программ. Помимо самого решения, компания National Instruments предлагает также комплексные услуги по инжинирингу, шефмонтажу, обучению и поддержке.

Основные преимущества установки NI STS
  • Обширный ассортимент ВЧ-устройств, цифровых устройств и приборов постоянного тока. Вы можете настраивать новые конфигурации установки NI STS и обновлять существующие тестеры, подключая необходимые измерительные приборы и обеспечивая возможность переноса программ тестирования и плат нагрузки.
  • Унифицированный набор специального ПО. Установка NI STS обеспечивается специальным ПО для разработки, отладки и развертывания программ тестирования для нескольких объектов, включая сопоставление выводов, импорт и экспорт условий испытания, биннинг и отчеты STDF.
  • Готовый код тестирования. Вы можете использовать перетаскиваемые программные шаблоны для распространенных операций тестирования полупроводников, таких как проверка целостности, испытания на утечку, генерирование цифровых последовательностей, а также формирование или получение ВЧ-сигнала для новейших беспроводных стандартов, например 5G NR.
  • Интеграция испытательных стендов. Стандартная инфраструктура стыковки и сопряжения обеспечивает беспрепятственную интеграцию с манипуляторами, оснастками изделий для пакетного тестирования и зондами для кремниевых пластин.
  • Калибровка системы. Вы можете выполнять калибровку источников цифровых сигналов и постоянного тока, вплоть до интерфейса подпружиненного зонда, и ВЧ-источников, вплоть до соединений типа blind mate, на уровне системы, а также использовать файлы векторного деэмбеддинга для калибровки на уровне объекта тестирования.
  • Услуги и поддержка. Комплексные услуги по инжинирингу, шефмонтажу, обучению и технической поддержке помогут Вам быстро приступить к работе.

Дополнительная (на английском языке) информация на странице; ( ni.com/ru-ru/shop/electronic-test-instrumentation/what-is-the-semiconductor-test-system).



Количество показов: 80
Предоставлено:  National Instruments

Возврат к списку