Л2-100 ТЕКО
Дмитрий Лисовский, Михаил Рагозин
В статье описывается новый цифровой запоминающий характериограф полупроводниковых приборов Л2-100 ТЕКО, который может служить современной заменой легендарного измерителя Л2-56 и обладает превосходным соотношением «цена – возможности».
Современную электронику невозможно представить без полупроводниковых приборов (ППП). Область применения и номенклатура полупроводниковых приборов неуклонно расширяется. Совершенствование технологических процессов производства позволяет создавать приборы с принципиально новыми характеристиками.
В этих условиях постоянно растут требования к возможностям оборудования для измерения характеристик полупроводниковых приборов. Измеритель параметров полупроводниковых приборов Л2-56, который когда-то выпускался отечественной промышленностью, снискал заслуженное признание специалистов благодаря своей функциональности, удобству и простоте использования.
В настоящее время на рынке контрольно-измерительных приборов имеется большое количество оборудования, в том числе известных зарубежных брендов, которые способны обеспечить любые виды измерений. Однако, стоимость брендов существенно ограничивает их широкое применение.
Компания «ТЕСТПРИБОР» представляет новый цифровой запоминающий характериограф полупроводниковых приборов Л2-100 ТЕКО, который может служить современной заменой легендарного измерителя Л2-56 и обладает превосходным соотношением «цена-возможности».
Цифровой запоминающий характериограф полупроводниковых приборов Л2-100 ТЕКО предназначен для визуального наблюдения статических вольтамперных характеристик (ВАХ) полупроводниковых приборов, измерения напряжений на их электродах и токов в их цепях.
Характериограф позволяет исследовать ВАХ полупроводниковых диодов, стабилитронов и стабисторов, биполярных и полевых транзисторов, тиристоров, симисторов и других ППП, а также оптоэлектронных и пассивных компонентов.
Рис.1 Внешний вид Л2-ТЕКО
ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ
Характериограф Л2-100 ТЕКО (см. рис. 1) может применяться: при производстве полупроводниковых приборов:
- для контроля параметров тестовых структур при отработке технологического процесса;
- для межоперационного контроля ППП в процессе производства;
- для анализа причин производственного брака;
- для приемо-сдаточных испытаний ППП при выпуске с предприятия – изготовителя;
- при конструировании радиоэлектронной аппаратуры (РЭА):
- для получения дополнительной информации о параметрах и характеристиках ППП;
- при производстве РЭА:
- для осуществления входного контроля и выявления контрафактных ППП;
- для подбора пар ППП с близкими параметрами при параллельном и последовательном включении, а также при формировании сборок и модулей;
- для выявления отказавших ППП и анализа причин отказов аппаратуры
- при ремонте и восстановлении РЭА.
