Каталог товаров

Система двустороннего контроля стекла Optris Top Down GIS 640 R

Данная компактная система идеально подходит для контроля производства листового стекла и может использоваться для управления технологическим процессом в установках для закалки стекла.
Особенности

ИК система, с дополнительным эталонным пирометром расположенным снизу, для автоматической коррекции коэффициента излучения обычного и низкоэмиссионного стекла.
Система защиты линз с цифровым управлением позволяет избежать дополнительной продувки воздухом.
Автоматический расчет области сканирования.
Система поставляется в предварительной сборке для более легкой установки на печь для закалки стекла.
Автоматическая настройки линии сканирования, нечувствительность к искажениям.

Компания: ТЕККНОУ, АО
Количество просмотров: 98
Назад в раздел